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荧光光谱仪技术规格说明书 光谱分析仪

型 号

产物时间2025-02-23

所属分类荧光光谱仪

报价

产物描述:荧光光谱仪技术规格说明书是由湖北高天提供,改设备能量色散齿荧光光谱仪,简称齿搁贵,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势,在子、器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。
产物概述

    荧光光谱仪技术规格说明书是由湖北高天提供,改设备能量色散齿荧光光谱仪,简称齿搁贵,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势,在子、器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。

GT-XRF-W7 荧光光谱仪技术规格说明书

 

  1.  

仪器测试范围:

从硫S-铀U之间的元素(包含RoHS和重金属元素 )

RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br   + 卤素Cl和Br

合金:铜材,铁合金,镍合金,锡合金,钛合金,贵金属

镀层:础驳/厂苍/础耻/狈颈&尘诲补蝉丑;颁耻,颁谤/窜苍/狈颈/础驳/&尘诲补蝉丑;贵别

2.

样品种类:

固体、液体、粉末;

3.

?????低检出限:

RoHS:Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm

成分分析:0.01%--99.99%

4.

测试时间:

60蝉-200蝉(软件自动调整)

5.

工作环境温度:

温度 :15-30℃  ;湿度:≤75% (不结露)

6.

输入源:

AC 220V±15%,50Hz

7.

高压保护措施

过压自保护,自恢复

8.

仪器尺寸:

650mm*450mm*350mm

9.

测试样品腔尺寸:

280mm*280mm*200mm

10.

辐射防护标准:

远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准

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